产品简介：

PCT高压加速寿命老化试验箱主要是测试半导体封装之湿气能力，待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测 试，湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体，常见之故障方式为主动金属化区域腐蚀造成之断路，或封装体引脚间因污染造成短路等。加速老化寿命试验的目的是提高环境应力(如：温度)与工作应力(施加给产品的电 压、负荷等),加快试验过程，缩短产品或系统的寿命试验时间。

产品特点：

电动锁系统，通过检测内压力和箱内温度，该系统才 能锁住箱盖用触摸空气器就可以安全开启箱盖。自动排气装置，采用的自动排除蒸汽的装置以达到不 用沸腾就可以对液体基质进行测试的效果，在测试完 成后，蒸汽可以根据预先设置的速率进行排放。以P.I.D.方式控制SSR,  自动演算控制饱和蒸气温度，故 能长期稳定的使用。

常用型号参数：